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我用conductive AFM扫描时，用contace mode 成像， trace和retrace line 形状相似，但是中间有大约6 nm的间隔。不知道这是不是water film?
原先laser signal 设置在-0.3V，然后deflection setpoint 设置在-0.2 engage the tip。 发现6nm 的gap之后，要把deflection setpoint降低到-0.5 左右才能使tip脱离表面。
我扫描的物品是参杂硅半导体上面的薄膜，可能会导电，所以现在用CAFM证明。但是不知道这层water film对我的导电性试验结果有没有重大的影响？ 求高手赐教！
谢谢！
有水膜的影响，但trace和retrace的差别还有一个来源是接触电阻不同，即探针的运动方向不同，探针与表面的接触状态不同。最好您能把原始的图发过来看一下。
你好孙工，谢谢你的回复。这是原图，还没有加偏压的状态。
探针并没有很好地追踪到样品表面，增加一下gain值，或者增加一点deflection setpoint试试看。这个在contact mode比较常见，不是水膜。
谢谢孙工回复。以前试过增加deflection setpoint,没有改善。这情况有时候有，然后这一天测的样品都这样。下次如果再遇到这种情况，试着加gain值。