The Nanoscale World

求助

rated by 0 users
Answered (Verified) This post has 1 verified answer | 2 Replies | 1 Follower

Top 500 Contributor
2 Posts
Points 27
Haichao Yu posted on Wed, Aug 1 2012 8:22 PM

我们的AFM型号是DIMENSION ICON,现在的问题是:

1:在Navigate中调节激光斑时候,始终无法同时看清楚样品表面和针尖,这样就造成了无法看清激光斑,导致在调节激光斑的时候经常会断针。

2:在Navigate中点击Sample(default)来Focus Surface和点击Tip Reflection来Focus Tip Reflection,后者的聚焦位置在前者之下,也就是说在看清Sample后,在点击Tip ReflectionCCD的聚焦位置实际上位于样品下方,无法看清针尖。

请问孙博士可能出现的问题在哪里?期待您的回答!

  • | Post Points: 12

Answered (Verified) Verified Answer

Top 10 Contributor
363 Posts
Points 4,300
Bruker Employee
Verified by Hao Sun

针尖和表面不在同一个聚焦平面,不可能同时看清楚。正常的步骤是:1. 在setup或align这一步中看清探针;2. 在navigate中看清样品(如果聚焦到样品);或看清探针倒影(如果聚焦到tip reflection)。focus到sample或者tip reflection都是可以的,选择一种方法即可。最终结果是探针在进针前距离样品表面1mm(默认设置)。

  • | Post Points: 13

All Replies

Top 10 Contributor
363 Posts
Points 4,300
Bruker Employee
Verified by Hao Sun

针尖和表面不在同一个聚焦平面,不可能同时看清楚。正常的步骤是:1. 在setup或align这一步中看清探针;2. 在navigate中看清样品(如果聚焦到样品);或看清探针倒影(如果聚焦到tip reflection)。focus到sample或者tip reflection都是可以的,选择一种方法即可。最终结果是探针在进针前距离样品表面1mm(默认设置)。

  • | Post Points: 13
Top 500 Contributor
2 Posts
Points 27

明白了,是我以前理解错了,谢谢你孙博士!

  • | Post Points: 10
Page 1 of 1 (3 items) | RSS
Copyright (c) 2011 Bruker Instruments