The Nanoscale World
Forums » Forums » 中文 » 请问专家，CAFM 是否可以测样品的IV曲线？如果可以， 其测试方法是怎样的，谢谢

Forums           

Bruker Media

Community Media

Bruker AFM Probes

SPM Digest

Application Notes

NanoTheater

Website

中文

Brochures & Datasheets

Publications

Probes Catalog

Events

Manuals & Documentation

Presentations

Guide to AFM Modes

News

Journal Club

Webinars & Video

Nanovations

Other

 

 

请问专家，CAFM 是否可以测样品的IV曲线？如果可以， 其测试方法是怎样的，谢谢

rated by 0 users
Answered (Verified) This post has 1 verified answer | 3 Replies | 2 Followers

Top 50 Contributor
16 Posts
Points 191
haihua posted on Wed, Nov 14 2012 12:11 AM

请问专家，CAFM 是否可以测样品的IV曲线？如果可以， 是否可以告知具体的测试方法，非常感谢！

  • | Post Points: 12

Answered (Verified) Verified Answer

Top 10 Contributor
363 Posts
Points 4,300
Bruker Employee
Reply
Answered (Verified) Hao Sun replied on Wed, Nov 14 2012 7:28 PM
Verified by Hao Sun

点击Ramp，然后把Ramp output设为DC sample bias，设置好Ramp Begin和Ramp End后，就可以和做力曲线类似，去做IV曲线了。具体请参考D盘上的manual，004-1020-000 APPLICATION MODULES NANOSCOPE V7-B。在4.7.4节。

  • Filed under:
  • | Post Points: 13

All Replies

Top 10 Contributor
363 Posts
Points 4,300
Bruker Employee
Reply
Answered (Verified) Hao Sun replied on Wed, Nov 14 2012 7:28 PM
Verified by Hao Sun

点击Ramp，然后把Ramp output设为DC sample bias，设置好Ramp Begin和Ramp End后，就可以和做力曲线类似，去做IV曲线了。具体请参考D盘上的manual，004-1020-000 APPLICATION MODULES NANOSCOPE V7-B。在4.7.4节。

  • Filed under:
  • | Post Points: 13
Top 50 Contributor
16 Posts
Points 191
Reply
haihua replied on Mon, Nov 19 2012 1:05 AM

谢谢孙博士，上周五我试了一下，没有做出好的信号，可能是样品放在硅片上，导电性不好，我们再试试看。听说12月份有高级模式培训，请问具体时间是哪天？很想再次申请参加培训，再次感谢孙博士。

  • | Post Points: 12
Top 10 Contributor
363 Posts
Points 4,300
Bruker Employee
Reply
Hao Sun replied on Mon, Nov 19 2012 6:29 AM

具体是12月17日至21日那周，具体日程本周会放出，我也会贴在本论坛上，但这次培训主要是针对北方的用户，南方会在上海举行，以后每年会有四次培训，两次在北京，两次在上海。一般的安排是3月上海基础培训，6月北京基础培训，9月上海高级培训，12月北京高级培训。为了保证培训质量，我们严格限制了席位，并且是收费的，请根据实际情况参加。

  • | Post Points: 10
Page 1 of 1 (4 items) | RSS
Copyright (c) 2011 Bruker Instruments