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表面势测量中的Drive amplitude该如何设置？
我是Nnaoscope IIIA MM的机器，在测量表面势能中发现interleave control中的Drive amplitude对结果影响非常大啊
我在实验中遇到的情景是：
如果将interleave control中的Drive amplitude前面的按钮点位灰色，使之与主控界面的对应参数一致（这个数值在数百mV），那么此时所测量的数值偏大；
如果将interleave control中的Drive amplitude前面的按钮点位绿色，独立控制该参数，那么此时所测量的表面势数值会随着Drive amplitude的增大而逐渐降低。
我测量的是HOPG样品，以上二种情形，信号都比较平稳，但信号的的大小最大时候能相差将近2V。
请问如何设置这个interleave control中的Drive amplitude才能保证测量的准确性啊。
谢谢
祝新年快乐...
Drive Amplitude 在合理的范围内增加应该不会影响测量结果，会让potential的noise降低。但请注意，AC+DC最大是10V，随着Drive Amplitude的增加也即AC的增加，DC的范围会越来越小。另外当Lift Height不足够高，过大的Drive Amplitude会引起样品表面的不可逆极化，导致测量的结果并非样品原来的性质。一个简单的验证方法是设定好了之后看1）Interleave amplitude通道是否接近0 （Realtime Planfit = None）；2）如果测试的是导体如HOPG，加1V sample bias，测得的Interleave Potential是否跟着增加1V （Realtime Planefit = None）。
在EFM中，Tip Bias或者Sample Bias一般情况下在2-3V左右即可。Drive Amplitude与表面电势中有截然不同的含义，详见我们培训的PPT对两种技术的总结，KPFM的AC是电压调制，而EFM的AC是加在tapping piezo上。通常情况下保持和主扫描线一致即可，即默认灰色；如果需要增加信噪比，可以增加Drive amplitude，但前提是不可以让探针碰到样品表面。
另问，在EFM中，这个参数该如何设置啊，与在表面势中原则一致吗