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请问，有没有关于KPFM的具体的操作教程而且手册之类的东西？
上次培训过后，我们试着自己做了几个样品，都没有得到想要的信号。不知有没有标准样品或者比较容易出信号的样品推荐？
一般是去看interleave的amplitude是否接近0，KPFM在正常工作时，Interleave Amplitude要接近0 （不要做任何Plane fit处理）。或者拿一个导体做样品，在样品上加1V电压，应该测到1V表面电势的增加。
对于III型的仪器，有对应的英文手册，它应该位于您的D盘Manuals的文件夹中，手册编号是004-210-000，在第14章。这个手册写的有些繁琐，其实做起来很简单，只是interleave面板的input feedback选为potential，lift height一般在50-100nm左右，drive amplitude 一般在500-3000mv，frequency和tapping一样，调节drive phase得到清晰稳定的interleave potential图像。KPFM有Au-Si-Al的标准样品。碳纳米管，合金材料等都可以做出很好的KPFM图像。如需培训请关注6月中旬的北京基础培训班。5月中旬会发通知。
谢谢孙博的回复！现在我们能测出一些图了，但测的出的数据与查到的数值出入较大。请问怎么验证得到的数值是否正确？
孙博士 您好！ 我们实验室购买的是贵公司的Bruker Dimension® Icon™， 想请教一下怎么调整里面的探针相位，使其得到一个正确的值？
我看了手册，里面提到Set Phase 按键可以直接调节相位；但是我连续点击几次以后，发现每次得到的Lock-in2 phase 都不一样，而且发现原本能测出来的表面势图测不出来了。所以想知道怎么调整这个相位值？ 或者得按 Set Phase 几次？
非常感谢！
如果是使用默认的KPFM-TP-AM模式，调节相位时只要先关闭Potential feedback，再点一下set phase，然后再打开potential feedback即可。因为lock-in2 phase在大约180度的范围内都是可以正常工作的，所以每次调的时候数值可能不同。8.15之后的软件potential feedback由lock-in2完成，所以您说的是对的，只要调potential feedback下的lock-in2 phase。而Interleave下的lock-in phase则是lock-in 1的。增大drive amplitude可以增强信噪比，在噪声较大时增加这个值会使噪声减小，但同时牺牲可以测量的电压范围，因为AC+DC一共可以加正负10V。Lift Height在探针不碰到样品表面并且无假象的情况下越低越好。