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您好，我想用AFM测量植物叶子表面的形貌，但是尝试了几次都不成功，我想问问，做这样的实验应该选择什么样的探针，实验过程中的参数该如何选择，谢谢！
如果可以的话，能不能告诉的详细点，因为我是个学生，接触AFM不是很久，很多方面都不是很懂。再次感谢！
用双面胶粘贴是最简便的方法，可以粘的面积大一些，粘完后压一下边缘，只要固定没有问题就行。高度图信号时有时无的说法比较笼统，到底是全黑了？全白了？还是噪声太大。最好发一个图给我，hao.sun@bruker-nano.com，请说明使用的探针，模式，以及扫描参数，并且给一个原始数据。
使用一般的tapping模式，用tapping的硅探针就可以，比如RTESP这种很常用的针。我以前做过，比较容易。如果想学基本的成像，也欢迎参加我们六月份的培训。
我想问问对于植物叶子样本应该怎么处理，我是直接将它用去离子水清洗干净，然后直接取样，用双面胶粘贴，但是过一段时间后，就粘不住了，不知道有没有什么好的处理方法。
还有，在扫描的过程中，高度图的型号时有时无，这是不是因为我叶子表面不规整的原因啊？谢谢了！