请教scanned conductance microscopy （SCM） 的相关问题

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Kai Tao posted on Tue, Jun 18 2013 1:37 AM

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在文献里，我看到大伙都用“scanning conductance microscopy”（简称：SCM，不是scanning capacitacne microscopy）来考察样品的导电性。我查了查BRUKER的说明，并没有找到对应的模式和介绍。

  通过这几天看文献，我对这个模式的了解是：这应该是基于EFM的一种模式；将样品滴在一个接地的基底上（好多人都用SiO2/Si板作为基底：不导电的SiO2作为insulator；导电的的Si接地；这样样品就与大地形成一个电容），利用能够导电的探针，并在其上施加一定的电压（通常为2— 8V）；利用lift mode（通常lift scan height 为20—100nm）考察样品的导电性。这样，探针、样品和基底之间，就分别构成串联的两个电容：如果样品导电，电容斜率为负值，导致振动相位减小，从而在interleave的phase图中就会显示出负的相位图；而相反，如果样品绝缘，就会在interleave的phase图中显示出正的相位图。

我最近尝试了一下该模式，发现有好多问题不懂。

1， SCM的制样方法：应该不是像传统的tapping mode那样，简单的将样品溶液滴在mica片上，吹干即可吧？是不是不能用mica片，而必须得用上面提到的SiO2/Si板作为基底？而且，我看说明书上说，做EFM时，Electrically connect the sample by mounting it to a standard sample disk or stage using
conducting epoxy or silver paint. 是否做SCM时也需要导电胶？

2，SCM该使用什么操作模式，是利用EFM还是SPoM呢？

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