The Nanoscale World
Forums » Forums » 中文 » 为什么MFM扫描过程会变模糊

Forums           

Bruker Media

Community Media

Bruker AFM Probes

SPM Digest

Application Notes

NanoTheater

Website

中文

Brochures & Datasheets

Publications

Probes Catalog

Events

Manuals & Documentation

Presentations

Guide to AFM Modes

News

Journal Club

Webinars & Video

Nanovations

Other

 

 

为什么MFM扫描过程会变模糊

rated by 0 users
Answered (Verified) This post has 1 verified answer | 6 Replies | 2 Followers

Top 75 Contributor
11 Posts
Points 127
王斯琰 posted on Wed, Nov 13 2013 9:26 PM

请教一下，我昨天换的新针扫了3张图以后磁畴结构看不清了，而且相位角也从5°降到了2°左右，磁化了以后还是不行，不知道为什么，请帮我解答一下，谢谢啦

  • | Post Points: 14

Answered (Verified) Verified Answer

Top 10 Contributor
363 Posts
Points 4,300
Bruker Employee
Reply
Answered (Verified) Hao Sun replied on Mon, Nov 18 2013 8:22 PM
Verified by 王斯琰

这取决于你的样品的磁性是不是太强，如果探针本身是低矫顽力的，那么探针会在扫描过程中被样品所磁化，而导致扫描得到的图像发生变化。一般的磁性探针适用于大多数样品，但特殊的磁性样品需要使用高磁矩、低磁矩、高矫顽力或低矫顽力的探针进行测量。

  • | Post Points: 13

All Replies

Top 75 Contributor
11 Posts
Points 127
Reply
Answered (Not Verified) 王斯琰 replied on Thu, Nov 14 2013 6:59 PM
Suggested by 王斯琰

另外我还想问下，一根磁力针的寿命是多久

  • | Post Points: 10
Top 10 Contributor
363 Posts
Points 4,300
Bruker Employee
Reply
Answered (Verified) Hao Sun replied on Mon, Nov 18 2013 8:22 PM
Verified by 王斯琰

这取决于你的样品的磁性是不是太强，如果探针本身是低矫顽力的，那么探针会在扫描过程中被样品所磁化，而导致扫描得到的图像发生变化。一般的磁性探针适用于大多数样品，但特殊的磁性样品需要使用高磁矩、低磁矩、高矫顽力或低矫顽力的探针进行测量。

  • | Post Points: 13
Top 75 Contributor
11 Posts
Points 127
Reply
王斯琰 replied on Tue, Nov 19 2013 12:03 AM

谢谢您的解答，我的样品本身是普通的不锈钢（铁素体），在无外加磁场下不表现磁性，而且应该算是软磁性材料，不知道这样的样品对针的影响怎样，我后来又做了一下KFM，发现电位图也变差了，是不是说明真表面的镀层已经不好了？

  • | Post Points: 12
Top 10 Contributor
363 Posts
Points 4,300
Bruker Employee
Reply
Hao Sun replied on Tue, Nov 19 2013 3:41 AM

对于您的样品，普通MESP可以使用。如果MFM以及KPFM同时出现了问题，说明镀层已被破坏，其表面的功函数发生了变化。在扫描过程中注意控制tapping force以减轻探针磨损。如果只做表面电势，也可以考虑单一材料的探针。

  • | Post Points: 10
Top 500 Contributor
3 Posts
Points 36
Reply
Liu Yukuai replied on Wed, Jun 11 2014 3:32 AM

您好！请问您那边做MFM时，可以做面内的吗？能够看薄膜样品面内的磁畴不？

  • | Post Points: 12
Top 10 Contributor
363 Posts
Points 4,300
Bruker Employee
Reply
Hao Sun replied on Sun, Jun 15 2014 11:49 PM

可以，只要使用TR-mode，来看interleave TR amplitude就可以了。

  • | Post Points: 10
Page 1 of 1 (7 items) | RSS
Copyright (c) 2011 Bruker Instruments