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各位好，我想问一下AFM中的setpoint值怎么调，我用scrollbar只能调到1nN，直接输数据似乎没用，请各位不吝赐教。谢谢！
你在用什么模式？
我用的是接触模式
在接触模式下，若下针之后发现trace与retrace不重合，应适当增加Deflection Setpoint的值，使探针更加用力向下压样品。调节至没有任何改善时，增加I Gain与P Gain，并适当减小扫描速度，会让图像质量更好。你可以参考Defleciton通道的图像，调节的最佳结果是只有高度有起伏的地方Deflection通道的信号才有变化。
deflection setpoint的值应该可以调，但是他的范围我不知道怎么调（我只能调到1nN），这个还请您解答一下，另外关于轻敲模式相图这一块我不太明白，不知道您是否有相关资料，谢谢！
当Trace与Retrace不重合时，就适当增加Deflection Setpoint直到探针能够正确追踪样品表面，我不知道你的机器是什么型号，你每次都做Deflection Sensitivity和Spring Constant的校正吗，为什么你的Setpoint是以nN表示的？它通常是以V为单位表示（一般不超过4V，视样品和探针的实际情况而定）或者以nm表示（只限于Nanoscope8.15）。如果你能把机器的型号和软件版本告诉我，或者有个设置页面的截图贴上来，就很好。
相位图是表面力学信息的综合反映，表面的弹性、粘性、电磁学性质、摩擦力等各种性质都会引起相位图的变化。其定义为驱动探针振动的驱动信号的相位与检测器检测到的悬臂振动的相位差（请参考下图）。如果探针没有任何能量损失，这两个相位应该是同步的。一旦探针与样品有相互作用，将有能量从探针转移到样品，系统需要时间给探针补充能量以维持恒定振幅，此时就会出现相位差。因此也可以说相位图反映了探针在表面各处的能量损失状况。如果探针打在较硬表面上，将比打在较软表面上能量损失小，相位差一般前者较小。使用相位图要当心，setpoint的设定以及外界环境会影响测量结果。一般不会单独分析相位图，要与高度图一同分析。