AFM中文网络研讨会—Fastscan AFM快速成像模式

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Hao Sun Posted: Wed, Oct 19 2011 6:05 AM

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主讲人: 黄林 博士 Bruker Nano Surfaces, Santa Barbara CA., USA

黄林博士

在线研讨会摘要

Bruker的Dimension系列原子力显微镜是迄今为止世界上应用范围最广、最为广大AFM用户所认可的的原子力显微体系。其最新产品DimensionFastScan推出了多项创新技术，使快速扫描、高分辨率成像与扫描精度完美结合。

Dimension FastScan — AFM技术的重大突破跟随布鲁克不断演变，追求突破，不断创新的步伐，体验其最新成果：Dimension FastScan 原子力显微镜

为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求，Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨率，不增加设备复杂性，不影响仪器操作成本的前提下，帮助用户实现了利用Dimension快速扫描系统，即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。快速扫描这一变革性技术重新定义了AFM仪器的操作和功能，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了AFM用户获得高水平研究成果的时间。

要想获得更多关于DimensionFastScan的有用信息，赶快注册参加Bruker本次关于AFM快速扫描。我们将会设置完整的报告和答疑时间，除了详细介绍AFM技术细节和应用前景，还会解答和探讨您有关AFM以及DimensionFastScan的一切疑问和观点。

在线研讨会报告内容：

• 概述快速扫描AFM的发展历史
• 扫描速度和仪器性能 – 一台快速扫描AFM需要具备哪些要素?
• 逐步发展起来的FastScan 技术
•Faster——不影响高分辨率的前提下，提高成像速度方面取得重大突破
• Dimension FastScan™ AFM的应用领域

点击下面链接报名参加本次网讨会

敬请把握宝贵的学习机会，名额有限，立即报名本次在线研讨会吧！

http://echo3.bluehornet.com/ct/6917979:10124241301:m:1:175509905:3826B6E07B5CA60BEF24D042A21C4A4D:r

北京时间 2011年10月27日 10：00 ——11：30am

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祝好！

Bruker AFM技术团队