[求助] cAFM 成像问题

stsolong posted on Wed, Feb 13 2013 4:00 AM

rated by 0 users

大家好，

我使用cafm的时候，height image简直是一塌糊涂，直接导致current image没有办法对照形貌图进行分析。

之前用Tapping Mode（一般的OTESPA 探针）扫描过同样的样品，形貌像还是挺清晰的，没有白线。样品表面结构大致是这样的：平坦的表面上有突起的粒子，高度大约150-200nm，尺寸大约100nm。粒子是从substrate里面长出来的，不会在表面移动。 这样的形貌对于cafm 的 contact mode是不是个问题啊？

CAFM用的是SCM-PIC探针，仪器是D3100, NanoScope4. 请问怎样才能得到好的height image？ 即便设定lookahead gain=0.7，也没有什么改观。

另：买了盒RMN tip，发现不好用。基本上每回engage tip的时候都失败，换回scm-pic探针就好了。 即使下针成功，得到的图像还不如scm-pic测的好（基于其他样品测试结果）。不知道是怎么回事。