The Nanoscale World
Forums » Forums » 中文 » 关于探针的功函数

Forums           

Bruker Media

Community Media

Bruker AFM Probes

SPM Digest

Application Notes

NanoTheater

Website

中文

Brochures & Datasheets

Publications

Probes Catalog

Events

Manuals & Documentation

Presentations

Guide to AFM Modes

News

Journal Club

Webinars & Video

Nanovations

Other

 

 

关于探针的功函数

rated by 0 users
Answered (Verified) This post has 1 verified answer | 3 Replies | 3 Followers

Top 75 Contributor
11 Posts
Points 139
wang zengze posted on Thu, Jun 26 2014 10:36 PM

我们在实验中，使了MESP做了一些电学的测试，在分析过程需要知道CoCr涂层的功函数，不知道哪里可以查到这个数值？

最好是各种导电探针的功函数都能有一个表，谢谢！

  • | Post Points: 12

Answered (Verified) Verified Answer

Top 10 Contributor
363 Posts
Points 4,300
Bruker Employee
Reply
Answered (Verified) Hao Sun replied on Mon, Jun 30 2014 11:52 PM
Verified by Hao Sun

因为合金的成分不同，因此并没有固定的功函数。需要使用表面电势功能在金表面做校准。金的功函数在5.2eV左右。用这跟探针测量Au，反推探针的功函数。

All Replies

Top 10 Contributor
363 Posts
Points 4,300
Bruker Employee
Reply
Answered (Verified) Hao Sun replied on Mon, Jun 30 2014 11:52 PM
Verified by Hao Sun

因为合金的成分不同，因此并没有固定的功函数。需要使用表面电势功能在金表面做校准。金的功函数在5.2eV左右。用这跟探针测量Au，反推探针的功函数。

Top 500 Contributor
2 Posts
Points 24
Reply
曹世民 replied on Thu, Aug 13 2015 6:17 AM

孙博您好！我用PFQNE-AL探针在AM-KPFM模式下去测量HOPG样品的表面电势，得到一个值。过几天再用同样的探针去测同样的样品，得到的值却变化了大概几百mVBroken Heart。请问这种情况该怎么解决？

  • | Post Points: 12
Top 10 Contributor
363 Posts
Points 4,300
Bruker Employee
Reply
Hao Sun replied on Fri, Aug 14 2015 1:04 AM

首先确保样品与基底之间是导通的，这样样品表面不会累积电荷。然后，由于KPFM测的是探针与样品间的电势差，因此探针或样品表面状况的改变会引起结果的改变，必须确定两次实验探针和样品的表面都是没有任何变化的。Lift的高度也会影响结果，要保持相同的lift高度进行测量。

  • | Post Points: 10
Page 1 of 1 (4 items) | RSS
Copyright (c) 2011 Bruker Instruments