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ramp得到I-V曲线后计算电阻，其电阻值包括材料和电流回路中其它所有部分的电阻。而AFM针尖太小，和材料的接触面积太小，导致测得的电阻远大于材料的真实值，比如我测金的电阻，却有1k欧以上。请问如何才能测得材料的准确值？
在微观尺度下电阻的定义实际上与宏观物体不相同，物质的微观尺度的电阻取决于探针下方一部分面积的导电性，以及导电通道的分布，因此测的不是宏观意义的电阻。如果要尽量得到材料的电阻，必须保证探针与样品的接触是欧姆接触。